国家知识产权局信息显示，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司申请一项名为“一种缺陷检测方法、模型训练方法以及相关装置”的专利，公开号CN122175886A，申请日期为2026年2月。

专利摘要显示，本申请提供一种缺陷检测方法、模型训练方法以及相关装置，获取待测图像，以及与待测图像属于同一类型的参考图像，参考图像中不具有缺陷；差分缺陷检测模型配置为基于待测图像和参考图像进行差异对比和缺陷分析，将待测图像和参考图像输入至差分缺陷检测模型中，得到待测图像的检测结果，检测结果用于标识在待测图像中是否存在缺陷，以及对缺陷所在区域进行图像标注。这样，通过训练好的差分缺陷检测模型，向模型中输入待测图像和作为参考的参考图像，该模型能够深度分析两张图像中存在的差异，进而精准识别出哪些差异为缺陷所导致，从而实现对待测图像中缺陷的精准识别，提高了缺陷检测精度。

天眼查资料显示，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司，成立于2024年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司参与招投标项目3次，财产线索方面有商标信息24条，专利信息18条。

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来源：市场资讯